در این مقاله یک روش تحلیلی بر مبنای فضای حالت مارکوف برای محاسبه قابلیت اطمینان سیستم‌های فتوولتائیک ارائه شده است. رفتار سیستم از دیدگاه قابلیت اطمینان با استفاده از روش تحلیلی مارکوف و آنالیز‌های احتمال به کار رفته مورد بررسی قرار گرفته است.
کد خبر: ۴۶۴۱۸ تاریخ انتشار : ۱۴۰۰/۰۴/۱۸