تفاوت تست میگر و تست hipot

تفاوت تست میگر و تست‌های پات چیست؟

تست میگر: در این روش تستر بین دو نقطه‌ی عایقی که می‌خواهد تست را انجام دهد ولتاژ DC بالایی تولید می‌کند که در نتیجه آن جریان هدایت شده و طبق قانون اهم، مقاومت بین این دو نقطه اندازه گیری می‌شود؛ که مقدار مقاومت نشان دهنده میزان سطح عایق یا همان مقاومت عایق می‌باشد.

شکل ۱

تست hipot: این تست برای تعیین کیفیت عایق‌های الکتریکی برای عبور معمول ولتاژ‌های بالا مورد استفاده قرار می‌گیرد. پس به طور کلی این تست به منظور تشخیص قدرت عایقی بین قسمت‌های حامل جریان و غیر حامل جریان بکار می‌رود و همچنین برای بررسی شرایط عایق در اثر فشاری که به صورت تصادفی و ناخواسته به تابلو ها، دستگاه یا تجهیزات وارد می‌شود مورد استفاده قرار می‌گیرد.

شکل ۲

همانطور که گفته شد این دو تست مقاومت عایق را با اندازه گیری نشتی جریان مشخص می‌کنند. تست hipot عمدتا برای تشخیص ظرفیت ولتاژی است که یک عایق می‌تواند قبل از شکست مقاومت کند؛ که با اعمال ولتاژ بالا جریان نشتی رادر طول تست برای تعیین کیفیت عایق اندازه گیری می‌کند؛ و گا‌ها ولتاژ زیادی به هادی تحت تست اعمال می‌شود تا زمانی که شکست اتفاق بیفتد؛ که استقامت عایق را در این روش می‌سنجد. در این تست به دلیل اینکه ممکن است محصول تحت تست آسیب ببیند معمولا در کارخانه‌های تولیدی برای تست محصول خود انجام می‌شود؛ و میگر نمی‌تواند این تست را انجام دهد؛ بنابراین تفاوت تست عایق میگر و hipot در دامنه ولتاژ اعمالی و زمان تست می‌باشد.

در تست میگر ولتاژ و زمان اندازه گیری کمتری نسبت به تست hi pot در نظر گرفته می‌شود. این تست معمولا برای یک دقیقه یا کمتر با اعمال ولتاژ متوسط برای تست لحظه‌ای جهت بررسی عایق بودن در شرایط محیطی موجود استفاده می‌کنند. در حالی که تست hipot برای ولتاژ‌های بالاتر می‌باشد و با اعمال تدریجی ولتاژ در طول ۱۵ دقیقه و خواندن مقادیر با فواصل هر دقیقه یکبار انجام می‌شود. حداکثر ولتاژ اعمالی ۳۰۰ ولت در هر میلی آمپر عایق می‌باشد. به عنوان نمونه یک کابل ۱۵ کیلو ولت با ۱۷۵ میلی ثانیه در حدود ۵۰ هزار ولت آزمایش خواهد شد. همانطور که ولتاژ اعمال می‌شود جریان نشتی در پایان هر دقیقه ثبت می‌شود. زمانی که جریان نشت ثابت باقی می‌ماند یا کاهش می‌یابد، عایق کابل مورد مورد تست قابل قبول خواهد بود. تست HIPOT برای تست کابل‌های زیرزمینی اسیب دیده نیز بکار می‌رود.

چرا میگر به عنوان یک تست غیر مخرب و تست ولتاژ بالا یا "های پات " یک تست مخرب شناخته می‌شود؟

با همه این تفاسیر تست میگر معمولا با ولتاژ‌های کمتر از ولتاژ نامی هادی انجام می‌شود و در نتیجه به تجهیز تحت تست آسیبی وارد نمی‌شود. در حالی که آزمایش پتانسیل بالا (hi-pot) ولتاژی بیش از ولتاژ نامی هادی و در نتیجه فشارهای الکتریکی زیادی را به عایق اعمال می‌کند تا به طور فعال باعث شکست در یک نقطه مانند انتهای کابل‌های ضعیف از نظر عایق بودن کابل شود. لازم به ذکر است تست HIPOT نسبت به محیطی که تست در آن انجام می‌شود حساس است و اگر تست به درستی انجام نشود می‌تواند به عایق تحت تست اسیب وارد کند. به همین دلیل آن را تست مخرب در نظر گرفته اند.

 

منبع: ای کهربا