تلفات LID چیست؟

LID (Degradation Induced Light) تلفات عملکردی است که در ماژول های کریستالی در اولین ساعات تابش خورشید اتفاق می افتد. LID بر عملکرد واقعی پنل - با توجه به آخرین داده های تست فلش کارخانه که توسط برخی از ارائه دهندگان ماژول PV ارائه شده است - تاثیر می گذارد. اگر ماژول ها با توجه به تست فلش آخر کارخانه خود براساس توان نامی خود طبقه بندی شوند، LID در واقع نشان دهنده تلفات نسبت به شرایط STC است. تلفات LID مربوط به کیفیت تولید ویفر است و ممکن است از 1٪ تا 3٪ (و یا حتی بیشتر) باشد. این به علت اثرات اکسیژن موجود در سیلیکون مذاب در طی فرایند Czochralski است.

تلفات LID تنها بر ویفرهای رایج P-type بور تاثیر می‌گذارد. فنآوری های غیر متعارف که در آن از ویفرهای n-type استفاده شده است، (به عنوان مثال در سلول های یکپارچه SunPower) تحت تاثیر تلفات LID قرار نمی گیرند. بدست آوردن داده ها درباره اثر LID در یک نمونه ماژول بسیار دشوار است. البته هرگز توسط تولیدکنندگان به آن اشاره نکرده اند. این تلفات بستگی به ویفر سیلیکون دارد و ممکن است از یک محصول تا محصول دیگر متفاوت باشد. بنابراین با توجه به ثابت نبودن تلفات LID ، در PVsyst ، به عنوان پیش فرض در نظر گرفته نمی‌شود. اگر شما قصد دارید آن را به صورت دقبق مشخص کنید، مقدار پیش فرض پیشنهادی 2٪ است.

منبع: http://files.pvsyst.com/help/lid_loss.htm