در این مقاله یک روش تحلیلی بر مبنای فضای حالت مارکوف برای محاسبه قابلیت اطمینان سیستم‌های فتوولتائیک ارائه شده است. رفتار سیستم از دیدگاه قابلیت اطمینان با استفاده از روش تحلیلی مارکوف و آنالیز‌های احتمال به کار رفته مورد بررسی قرار گرفته است.
کد خبر: ۴۶۴۱۸ تاریخ انتشار : ۱۴۰۰/۰۴/۱۸
در این مطلب کد‌های متلب و GUI برای محاسبه شاخص‌های قابلیت اطمینان سیستم مانند LOLP و EENS جهت دانلود ارائه میشود.
کد خبر: ۲۲۹۰۷ تاریخ انتشار : ۱۳۹۶/۰۳/۳۱